OBIRCH vs EMMI

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Photo Emission Microscopy (EMMI OBIRCH)

https://icfailureanalysis.com

OBRICH, InGaAs EMMI, and EMMI are three techniques used to locate an emission site or a hot spot generated by excessive heat on a sample.

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雷射光束電阻異常偵測(OBIRCH)

https://www.istgroup.com

雷射光束電阻異常偵測(Optical Beam Induced Resistance Change，以下簡稱OBIRCH)，以雷射光在IC表面進行掃描，在IC功能測試期間，OBIRCH 利用雷射掃瞄IC 內部連接位置 ...

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EMMI和OBIRCH傻傻分不清？

https://zhuanlan.zhihu.com

光诱导电阻变化（OBIRCH，Optical Beam Induced Resistance Change），激光作用于半导体材料时，会产生两种效应，一种是热效应，另一种是光生载流子效应。

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电性热点定位分析InGaAs，OBIRCH，EMMI有什么区别？

http://www.enrlb.com

电性热点定位分析InGaAs、电性热点定位分析OBIRCH、电性热点定位分析EMMI有什么异同，工作原理有什么异同。

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芯片漏电点定位及分析（EMMIOBIRCH，显微光热分布

https://www.gmatg.com

设备原理 .EMMI. 微光显微镜（Emission Microscope, EMMI）是利用高增益相机/探测器来检测由某些半导体器件缺陷/失效发出的微量光子的一种设备。

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Emission Microscope (EMMI)

https://www.istgroup.com

EMMI consists of a highly-sensitive CCD capable ... EMMI is used extensively nowadays for detecting leakage ... Optical Beam Induced Resistance Change (OBIRCH) ...

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Electrical Failure Analysis (EFA)

https://www.matek.com

The Infrared Optical Beam Induced Resistance Change（IR OBIRCH ... Nowadays IR-OBIRCH is an indispensable important FA technology applied in IC development.

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